供应JW-BK型静态容量法比表面测定仪

技术参数：
     原    理：  氮吸附、多层吸附理论、毛细凝聚理论
     方    法：  静态容量法
     功    能：  ＢＥＴ比表面（包括相关常数及系数）测定
　　     　      Ｌａｎｇｍｕｉｒ比表面测定
　　　           等温吸、脱附曲线测定
　　　           从吸附曲线测定ＢＪＨ孔径分布、总孔体积和平均孔径
　　　           从脱附曲线测定ＢＪＨ孔径分布、总孔体积和平均孔径
     气    体：  高纯氮气
     氮 分 压：  0.０１～０．９９５,较小可分辨相对压力(P/P0) :  5×１０－4
     极限真空度：６．８×１０－２Ｐａ  
     压力精度：  ０．２5％
     样品数量：  １个测试样品  
　　　              ２个内置脱气站可同时进行样品预处理（温度可单独设定）
                        样品数量及检测站数量可根据用户要求扩展
     测试范围：  比表面　≥ 0.01M2/g , 无规定上限, 孔径0.7～ 4００ｎｍ
     测试精度：  ≤±２%
     测试效率：  ＢＥＴ比表面每个样品15分钟,从吸附等温曲线测定BET比表面及ＢＪＨ孔径分布 ~100分钟,从吸、脱附曲线测定BET比表面及ＢＪＨ孔径分布 ~3.５小时
     运行方式：  在输入试验条件后，计算机控制全自动运行
     脱气系统：  同机设有两个样品的预处理工位，每个样品可以单独设定预处理温度和处理时间，温度可控范围  50 ~ 400 °C  ± 1 °C，测试样品也可于原位进行预处理并接下去进行测试
     软    件：  在Windows平台上提供自动控制和数据处理/报告系统，软件功能强大，界面友好 ，操作方便，指导用户进行分析设置、预置参数、操作设置、数据处理、图形和报告输出等，在操作期间可以查看被测点以前的累积数据、相关的图形和分析，测试结束后**捷预览窗口直接看到全部结果
     外形尺寸：  50×35×７０
     主机重量：  3４Kg